Model-Based Mutation Testing of an Industrial Measurement Device

B. K. Aichernig, J. Auer, E. Jöbstl, R. Korošec, W. Krenn, R. Schlick, and B. V. Schmidt

Abstract:

Reference: B. K. Aichernig, J. Auer, E. Jöbstl, R. Korošec, W. Krenn, R. Schlick, and B. V. Schmidt. Model-based mutation testing of an industrial measurement device. In TAP, volume 8570 of LNCS, pages 1-9. Springer, 2014.