I. Grabe, M. M. Jaghoori, B. Aichernig, C. Baier, T. Blechmann,
F. de Boer, A. Griesmayer, E. Broch Johnsen, J. Klein, S. Klüppelholz,
M. Kyas, W. Leister, R. Schlatte, A. Stam, M. Steffen, S. Tschirner,
L. Xuedong, and W. Yi
Abstract:
Reference: I. Grabe, M. M. Jaghoori, B. Aichernig, C. Baier,
T. Blechmann, F. de Boer, A. Griesmayer, E. Broch Johnsen, J. Klein,
S. Klüppelholz, M. Kyas, W. Leister, R. Schlatte, A. Stam, M. Steffen,
S. Tschirner, L. Xuedong, and W. Yi.
Credo methodology.
Electron. Notes Theor. Comput. Sci., 266:33-48, 2010.
www-data,
2020-09-10